上海stil传感器应用案例 马波斯 马波斯测量设备供应

优势??非接触三维表面轮廓测量??噪音小，测量重复性好??纳米级分辨率：Z轴分辨率比较高可达0.1nm??测量的点云数多：一个面**多可以达到500万个点??点间距小，XY分辨率高??多种视野范围可供选择，快速切换物镜变换视野??测量速度快，可实现在线测量技术特点1.干涉条纹扫描测量表面位置信息的理论根据是被测表面上各点深度不同所形成的干涉光强不同。2.产生干涉情况下，波长与可测量的深度数据相对应。3.在白光干涉中，干涉图样是由各色光形成的单色干涉图样形成的。被测表面上各点的深度不同，根据光的波动性与同调性，所对应的干涉光强中各频谱成分的强度不同，各色光的干涉级次不同。有助于更加准确的得到表面的位置信息光谱共焦传感器，就选马波斯测量科技，让您满意，欢迎您的来电哦！上海stil传感器应用案例

随着汽车行业的竞争加剧，各厂家对产品的品质要求会更高。汽车四大生产工艺冲压/焊装/涂装/总装的生产线上大量的视觉装置已经逐步应用起来。以前人们对视觉传感器有一种恐惧心理，认为其操作复杂，设定繁琐；其实现在厂商使用的都是菜单化操作，并将频繁使用的操作转化为控制器上的特定按钮，单触发就可以完成菜单的转换。司逖光谱共焦传感器不仅*在质量监控方面起着举足轻重的地位，在设备的预防保全方面同样也有用武之地。例如在涂装/总装使用的输送链，经常因为链条的疲劳老化断裂而产生断链的故障，并且修复时间长严重影响生产。如果能对链条的拉伸变化量进行测量，就可以在疲劳断裂前进行更换，从而减少停机时间，降低成本，司逖光谱共焦传感器的位移监测正可以做到这一点！同时传感器的高速计测可以在输送链运行时作检测，根据存储的数据，维修人员作出保养维护计划。上海stil传感器应用案例马波斯测量科技致力于提供专业的光谱共焦传感器，欢迎您的来电哦！

半导体行业材料强国是科技强国的基础，第三代半导体材料扮演着愈发关键的角色，也正日益成为国际、国内科技和产业竞争的**领域之一。我国精密加工技术和配套能力进步迅速，已经具备开发并且逐步主导第三代半导体装备的能力。全国多地积极响应，促进地方产业转型升级。该微电子产业发展政策，针对第三代半导体企业购买IP、参与研发多项目晶圆等做出了详细的扶持说明。深圳正实施新一轮创新发展战略布局，机器人、无人驾驶、等新兴产业日新月异，坪山区将依托5G试点，建设第三代半导体产业集聚区。

光谱共焦线传感器由180个点组成，可以测量距离厚度粗糙度形状高分辨率各种材料适用于各种行业。适用于各种材料金属(抛光或粗糙),玻璃,陶瓷,塑料,碳,硅…同轴性无阴影影响精度&分辨率亚微米级精度，Z轴纳米级分辨率被动式(低温、易爆环境)测量区域外的热源和电源大角度镜面可达45°速度比点传感器快180倍光谱共焦视觉检测相机，AOI彩色共焦线相机检测系统：自动光学检测，可以测量尺寸高分辨率各种材料适用于各种行业。工业4.0100%在线自动测量与质量控制柔性系统，高速可达12m/s3D形状/轮廓测量多达6轴汽车挡风玻璃HUD多点厚度测量*需4秒高分辨率的直角坐标机械手：±0.05mm3到5轴3D形状和/或多点厚度测量：±0.05mm重复性适用任何反射表面3D系统致力于粗糙度，3D形貌测量3个高分辨率电动轴(X；Y；Z)：±0.001mm3大尺寸选择：100x100mm2；200x200mm2；300x300m2…可与STIL传感器配套使用，并集成了点、线、相机的3D软件系统亚微米级轴向分辨率薄涂层和空气间隙测量：小于1微米适用于在线应用高灵敏度和高精度可提供卡钳结构或测量设备可结合马波斯Quick-SPC软件进行数据处理。

手表质量的好坏和工件工艺及组装能力有很大的关系。组装好一款手表的工艺过程非常复杂，需要经过三个专业技术将机芯，表盘，内部精密齿轮完美无瑕地组装一起，才能发挥出**长的使用是寿命。机械手表的制造工艺复杂程度可见一斑。在工件制作、使用和组装的过程中，光谱共焦传感器可以检测细小复杂的微部件。光谱共焦技术，基于专有的创新光学原理，从概念设计的第一步到**终校准，一切都在内部完成，除了分包的镜片，机械零件和电子板制造马波斯测量科技致力于提供专业的光谱共焦传感器，有想法可以来我司咨询！上海stil传感器应用案例

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光谱共焦传感器可以测量几乎任何类型的材料（玻璃，陶瓷，塑料，半导体，金属，织物，纸张，皮革等）制成的样品。它们可以测量抛光表面（镜子，镜片，晶圆）以及粗糙表面。光斑尺寸、比较大采样斜率、工作距离和测量范围，分别是什么概念比较大采样斜率（Max.sampleslope，简称MSS），是光轴和样品表面法线之间的比较大角度，在此角度条件下测量依然可行。MSS是测量点处的实际局部斜率，而非理论上“平均曲面”的斜率。此功能*对镜面(镜面状)表面有重要意义；对散射表面，比较大采样斜率更高。对于所有类型的采样，采集信号的强度都随着倾斜角度的增加而减小。光斑尺寸(Spotsize)，指光点的理论尺寸，即光斑的大小。工作距离(WorkingDistance)，光学笔前端到量程近端的距离。测量范围(MeasuringRange，简称MR)，0到比较大可量测值的区间范围。又叫测量行程。上海stil传感器应用案例